第一章 单元测试

1、 问题:X射线衍射方法中最常用的方法是（ ）。
选项：
A:劳厄法
B:粉末多晶法
C:周转晶体法。
答案: 【
粉末多晶法
】

2、 问题:已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（ ）。
选项：
A:Co
B:Ni
C:Fe。
答案: 【
Ni
】

3、 问题:X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ ）。
选项：
A:哈氏无机数值索引
B:芬克无机数值索引
C:戴维无机字母索引
答案: 【
戴维无机字母索引
】

4、 问题:在X射线衍射实验中，用Cu靶和Mo靶分别为同一Al粉末试样作衍射，在其它试验条件基本相同时，最终所标定的三条最强的衍射峰的指数将不同 （ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【
错
】

5、 问题:物质的电子衍射所遵循的消光规律与其X射线衍射的消光规律不同，因为电子的波长远远小于X射线的波长。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【
错
】

第二章 单元测试

1、 问题:在TEM中，样品通常需要处理成什么状态？（ ）
选项：
A:粉末状
B:块状
C:薄膜状
D:液体状
答案: 【
薄膜状
】

2、 问题:以下哪种技术不是TEM的成像模式？（ ）
选项：
A:明场成像
B:暗场成像
C:相位对比成像
D:原子力显微镜（AFM）
答案: 【
原子力显微镜（AFM）
】

3、 问题:在TEM样品制备中，以下哪些步骤是必要的？（ ）
选项：
A:样品的超薄切片
B:样品的表面抛光
C:样品的离子减薄
D:样品的镀膜处理
答案: 【
样品的超薄切片
样品的离子减薄
样品的镀膜处理
】

4、 问题:透射电子显微镜（TEM）只能用于观察金属样品。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【
错
】

5、 问题:在透射电子显微镜（TEM）中，样品必须非常薄，以便电子束能够穿透。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【
对
】

第三章 单元测试

1、 问题:XRF分析中，用于激发样品中元素的特征X射线的辐射源通常是？（ ）
选项：
A:紫外线
B:红外线
C:X射线
D:伽马射线
答案: 【
X射线
】

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